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La diffusion ou les paramètres S obtenus à partir de mesures directes ou de simulations d'ondes électromagnétiques peuvent violer les lois physiques en raison d'erreurs de mesure ou numériques. S'ils sont utilisés dans des simulations, ces paramètres S conduisent à des résultats incorrects et à des conclusions erronées. Cet article se concentre sur trois de ces propriétés des paramètres S - la causalité, la passivité et la réciprocité. Des tests sont fournis pour détecter si l'une des trois conditions est violée. Des algorithmes séparés sont fournis pour rendre les paramètres S causals, passifs et réciproques. Les algorithmes proposés se sont avérés être les meilleurs dans l'espace des solutions et sont faciles à mettre en œuvre.
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Nous explorons en détail la relation entre les réponses en fréquence discrète liées aux sparamètres et la réponse en temps continu implicite. Cela se fait à la fois dans le domaine fréquentiel et temporel pour développer la bonne idée et explorer les problèmes avec les réponses réelles dans le domaine temporel, le crénelage temporel, la causalité, l'interpolation et le rééchantillonnage des données à fréquence discrète. En utilisant les connaissances acquises, nous identifions les conditions d'un échantillonnage suffisant et les effets secondaires des conditions pratiques invariables lorsque ces effets secondaires ne peuvent pas être complètement dissipés. Cet article est particulièrement utile pour comprendre les problèmes liés à l'application directe de sparamètres dans les simulations linéaires, comme ceux utilisés dans les applications de sondage virtuel dans les oscilloscopes.
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Le logiciel SPARQ inclut la possibilité de limiter le temps de réponse impulsionnelle dans le cadre du processus de calcul du paramètre S. La limitation du temps de réponse impulsionnelle a pour principal avantage d'éliminer le bruit des paramètres S renvoyés par le SPARQ. Lors de la limitation de la réponse impulsionnelle, les paramètres S mesurés par le SPARQ sont plus lisses et correspondent mieux aux résultats VNA.
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Nous clarifions le rôle des mesures de perte de signal, alias perte totale, dans la spécification et la qualification des matériaux de circuits imprimés pour la conception électronique à grande vitesse. Nous démontrons ensuite la technique de mesure NIST Multiline en particulier en caractérisant des lignes de test fabriquées dans des matériaux PCB conventionnels. Le document décrit et démontre cette technique et montre comment rapporter avec précision la perte de propagation du signal en fonction de la fréquence, même lors de l'utilisation de systèmes basés sur TDR. L'article révèle également comment l'inadéquation de l'impédance et la variance du retard différentiel contribuent à la perte signalée pour diverses méthodes de test en pratique aujourd'hui.
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Une technique est présentée pour éliminer de grandes quantités de bruit présent dans les formes d'onde de réflectométrie dans le domaine temporel (TDR) afin d'augmenter la plage dynamique des formes d'onde TDR et des mesures de paramètres S basées sur TDR.
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L'analyseur de réseau d'intégrité du signal SPARQ utilise TDR et TDT pour caractériser le comportement électrique d'un réseau. Le processus de mesure des paramètres S comprend 3 phases : 1) étalonnage OSLT, 2) mesure DUT et 3) calcul des paramètres S. Lors de l'utilisation de modèles SPARQ "E", toutes les phases sont effectuées automatiquement, en appuyant sur un seul bouton, et sans aucune intervention de l'utilisateur. Ceci est accompli en utilisant un assemblage de matrice de commutation interne qui achemine les signaux vers les normes d'étalonnage connectées en interne et vers les ports du panneau avant. Les modèles « M » sont calibrés avec le kit de calibrage OSLT externe de l'utilisateur.
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Cet article traite de la plage dynamique de l'analyseur de réseau d'intégrité du signal SPARQ et considère l'impact de plusieurs spécifications clés. Il compare en outre la plage dynamique et les principales spécifications de deux instruments temporels concurrents et fournit des dérivations et des résultats expérimentaux qui appuient les calculs.
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