OakGate Appareil monté en rack R300-G4 3U

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Vue d’ensemble
Caractéristiques du logiciel

Vue d’ensemble

L'appliance de montage en rack R-Series 3U pour PCIe Gen4 est un système de test robuste et polyvalent conçu pour tester et déboguer les disques SSD de toutes les interfaces et protocoles de stockage courants, tels que PCIe, SAS et SATA. Comme son nom l'indique, l'appliance de montage en rack 3U tient dans un boîtier de rack standard de 19 pouces à une hauteur de 3U. L'appliance de montage en rack 3U est alimentée par le OakGate Cadre de validation du stockage Pro (SVF Pro) engine, le logiciel de test de stockage le plus avancé du secteur. Le logiciel robuste SVF Pro, maintenant dans sa quatrième génération, offre un ensemble complet de fonctionnalités et de capacités de test.

L'OGT-R300-G4 est conçu pour répondre aux exigences de mise à l'échelle haute densité avec ses sept emplacements PCIe de carte mère interne (quatre Gen4 x16, un Gen4 x8 et deux Gen3 partagés (deux à x8 et x8 ou deux à x16 et x0) ). Ces emplacements peuvent être utilisés comme emplacements d'extension pour se connecter à une variété de boîtiers externes, tels que le OakGate Boîtiers à 12 baies qui testez les SSD U.2, U.3 ou EDSFF 1U. Les emplacements peuvent également être utilisés pour des tests "dans l'appareil", tels que le test de cartes d'extension NVMe ou la connexion à l'option OakGate Modules enfichables à 4 baies pour tester les SSD courts U.2, U.3 ou EDSFF 1U. La figure suivante montre l'appareil équipé d'un OakGate Module enfichable U.4 à 2 baies et OakGate Module enfichable court EDSFF 4U à 1 baies pour tester respectivement les SSD courts U.2 et EDSFF 1U.

Caractéristiques du logiciel

caractéristique Description
Support de protocole

Profitez de la satisfaction d'avoir un support intégré pour les protocoles les plus populaires et les plus émergents de l'industrie du stockage.

Génération de trafic

Générez facilement des profils de trafic aléatoires hautes performances avec des profils d'E/S. Inclut la prise en charge de l'espace de noms zoné.

Analyseur de protocole

Déboguez et analysez efficacement depuis la mise au point précoce du prototype jusqu'aux tests d'E/S à long terme à l'aide de l'analyseur de protocole intégré.

Conformité au protocole / Tests dirigés

Exécutez des centaines de tests de conformité intégrés qui évaluent un appareil par rapport à son protocole, ou créez les vôtres pour une flexibilité et un contrôle maximum. OCP 1.0 pris en charge.

Injection d'erreur

Injectez des conditions d'erreur pour voir comment le DUT se comporte dans des situations réelles.

Contrôle des périphériques et gestion de l'alimentation

Testez les véritables limites de votre produit grâce à notre support multifournisseur leader du secteur pour le contrôle des périphériques et la gestion de l'alimentation.

Automatisation pointer-cliquer

Créez des suites d'automatisation complètes sans écrire une seule ligne de code à l'aide de notre outil d'automatisation des tests intégré.

Analyse comparative des performances

Fournissez des résultats d'analyse comparative cohérents, mesurez les performances réelles de l'appareil testé et générez une suite d'analyses de performances.

Validation des données

Assurez-vous que votre appareil se comporte comme prévu et conserve inconditionnellement les données intactes, même dans les situations de perte de puissance les plus stressantes.

Compatibilité

Compatible PCI Express® 4.0 (PCIe Gen4)

Logiciels

Propulsé par le logiciel SVF Pro / Enduro

Processeur

AMD EPYC™ 7402P, processeur 24 cœurs, monosocket, 2.8 GHz

La mémoire système

Mémoire système DDR64 ECC de 4 Go (jusqu'à 512 Go)

Slots

Sept emplacements PCIe sur la carte mère :

Quatre PCIe Gen4 x16 (emplacements 3, 4, 6 et 7)
Un PCIe Gen4 x8 (emplacement 5)*
Un PCIe Gen3 x8 ou x0 (emplacement 2)*
Un PCIe Gen3 x8 ou x16 (emplacement 1)*
*Les emplacements 2 et 1 sont partagés, de sorte que les emplacements 2 et 1 peuvent être x8 et x8, respectivement, ou x0 et x16, respectivement.

Modules enfichables

Prend en charge jusqu'à deux modules enfichables à 4 baies pour tester les SSD courts U.2, U.3 ou EDSFF 1U

Essais uniques

Possibilité d'exécuter des tests uniques sur chaque SSD individuellement et simultanément

Cycle d'alimentation et mesure

Cycle d'alimentation individuel et mesure de puissance sous contrôle logiciel :

Prise en charge de 3.3 V, 5 V et 12 V
Allumer/éteindre chaque port/appareil
Mesure de tension et de courant pour chaque port/dispositif (à un taux d'échantillonnage d'environ une lecture par seconde)
Mesure de puissance sous divers états de faible puissance (à un taux d'échantillonnage d'environ une lecture par seconde)

Dimensions du châssis

~ 19" L × 26" L x 5.5" H

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