WavePulser 40iX Analyseur d'interconnexion haut débit

WavePulser 40iX valide, débogue et résout les problèmes d'interconnectivité dans les câbles de données série, les canaux, les connecteurs, les vias, les fonds de panier, les cartes de circuits imprimés et les packages de puces et SoC. Il est simple à configurer et à utiliser. Il fournit les mêmes résultats qu'un analyseur de réseau pour une fraction du prix.

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WavePulser 40iX les normes d'étalonnage sont intégrées, de sorte que l'étalonnage est toujours automatisé, simple et rapide. Comparé à un analyseur de réseau vectoriel qui nécessite l'achat d'étalons d'étalonnage externes supplémentaires et nécessite une connexion manuelle pour l'étalonnage. L'approche basée sur TDR/TDT est également indépendante de la configuration, ce qui rend l'étalonnage moins fréquent.

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WavePulser 40iX fournit une réponse échelonnée du réflectomètre dans le domaine temporel (TDR) et des réponses de couche physique temporisées et/ou émulées sans avoir besoin d'extrapolation au courant continu et aux basses fréquences - idéal pour l'analyse d'interconnexion de données série à grande vitesse.

Une acquisition affiche tous les résultats de mesure : retour en mode mixte et pertes d'insertion pour tous les ports ; mesures en mode différentiel et en mode commun ; Réponse en fréquence CC. Une interface utilisateur graphique tabulaire facilite la lecture des résultats.

Une configuration simple nécessite que vous ne saisissiez que les fréquences et le nombre de ports pour une acquisition unilatérale. Choisissez un temps de test optimisé pour la précision ou la vitesse ou quelque chose entre les deux. Reconfigurez les ports dans le logiciel sans vous reconnecter au DUT. Réorganisez les paramètres S dans le fichier Touchstone.

L'étalonnage électronique interne permet aux mesures de commencer plus tôt et d'être effectuées avec plus de confiance. Des capacités telles que la passivité, la réciprocité et l'application de la causalité garantissent une plus grande précision de mesure des paramètres S.

Éliminez les effets des dispositifs de test, des câbles et des connecteurs conformément à la norme IEEE 370-2020 et améliorez la précision des mesures. Prend en charge les méthodes 2x-Thru, 1x-Reflect-Short, 1x-Reflect-Open et le désencapsulage in situ (ISD) par extraction d'impédance basée sur la réflectométrie temporelle (TDR) ou extension de port. Utilisez les paramètres S résultants dans les outils d'analyse de diagramme de l'œil et de gigue. (Certaines fonctionnalités sont optionnelles).

Importez ou simulez des formes d'onde et utilisez les paramètres S pour modéliser les déficiences. Visualisez rapidement l'impact des déficiences avec un diagramme en œil de données série intuitif. Visualisez les effets du désembeddage et de l'égalisation sur le diagramme de l'œil. Prend en charge PLL, préaccentuation, désaccentuation, CTLE, FFE et DFE.

Mesure la gigue totale (Tj), aléatoire (Rj) et déterministe (Dj). Déconvoluez Dj en composants. Affichez la gigue dans le spectre, l'histogramme, la piste de gigue, le diagramme de l'œil et d'autres tracés.