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Découvrez comment identifier la cause des problèmes intermittents lors de l'exécution de tests de validation NVMe.
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Découvrez comment déboguer les rafales à latence élevée dans les charges de travail du centre de données.
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Découvrez les défis et les stratégies d’atténuation pour gérer les risques au niveau du matériel et du micrologiciel.
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Utilisez notre technologie brevetée « Memory fencing » pour détecter les erreurs fonctionnelles qui se produisent lorsqu'un périphérique accède à l'espace mémoire en dehors de la zone spécifiée par le pilote du périphérique.
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Cet article établira une plage pratique pour les constantes de temps que nous devons couvrir et illustrera l'efficacité des corrections basées sur le DSP pour quelques valeurs de constante de temps sélectionnées.
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Cet article traite de la résolution du convertisseur analogique-numérique (ADC) (principalement en ce qui concerne les oscilloscopes) et des considérations pour améliorer la résolution à l'aide de diverses méthodes de déploiement ADC.
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Le signal électrique PAM-4 le plus rapide est démontré. La technologie derrière la génération de ce signal ainsi que l'acquisition du signal est discutée ainsi que la motivation pour générer des signaux comme celui-ci dans la recherche sur les communications optiques.
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Le test et la validation du réseau de distribution d'énergie est une tâche importante dans le flux de conception du système. Pour éviter un temps de test inutile, la configuration de mesure, les instruments et les connexions doivent être réutilisables pour différentes tâches. Les instruments et les configurations, par conséquent, qu'ils fonctionnent dans le domaine temporel ou dans le domaine fréquentiel, limitent le nombre de fonctions pouvant être exécutées sans changer d'instruments, de câbles ou de connexions. Le document explore les configurations de test et les instrumentations qui permettent d'effectuer plusieurs tests sans modifier les connexions matérielles. Les résultats des tests réels illustreront les avantages et les limites de la configuration.
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